探針卡(probe card)為晶圓測試時的重要測試介面，製程上包含多項先進製造技術。晶圓在未切割、IC封裝前須透過Probe Card測試晶圓品質，以避免不良品封裝，是積體電路製造中影響甚巨的重要技術與介面。本公司在探針卡零組件製造領域深耕多年，不斷地提升各零組件的加工精度，以達到探針卡的最佳使用效果，讓客戶可以在使用探針卡時能發揮最精準的檢測功能。